Быстрый просмотр
| Дюйм-метрический | Metric |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Система освещения | Pulse lighting |
| Яркий цвет | White |
| Частота | 75 kHz or less |
| Максимальная светоотдача | 30 lm |
| Ширина входного импульса | 10 ns to 85 ns |
| Ширина оптического импульса | 50 ns to 100 ns |
| Диапазон рабочих температур | 5 to 40°C , 80% RH max. |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | PC for M2 system |
| Система состоит из | Operating system: Windows 11 ProDisplay: 15.6'' (39.6 cm), 16:9 Wide Screen, 1366 x 768/LED-Backlight Tuch Screen: Multi-touch (10 fingers touch)Processor: Intel Celeron N4500Chipset: IntegratedGraphic: Intel UHD Graphics (iGPU)Memory: RAM - 8GB DDR4-2933 SO-DIMM (1x 8GB Modul)Storage: SSD: 256GB M.2 PCIe 3.0 |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Потребляемая мощность | 22 V /17.4 W (power cord has to be ordered seperatly) |
| Совместимые модели | PJ-PLUS (Projection lens 10x and 20x). |
| Источник освещения | Bullet type white LED |
| Угол освещения | 52° |
| Срок службы светодиода (ссылка) | 30.000 H |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функция | Automatic edge detection |
| Мин. диаметр | 2 mm on the screen |
| Мин. ширина | 1 mm on the screen |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Ввод данных | USB, RS-232C, X/Y/Z-axis signal, Footswitch |
| Вывод данных | USB, RS-232C, Printer |
| Источник питания | 100/240V AC, 50/60 Hz |
| Масса | 2.8 kg |
| Разрешение | 1 / 0,1 µm |
| Измерение геометрических элементов | Maximum of 1000 elements, point, line, circle, distance, ellipse, rectangular hole, slotted hole, intersection and intersecting angle and point & angle, plus a number of functions for evaluation, e.g. perpendicularity and parallelism are provided. |
| Вывод файла результата измерения | CSV format; MUX-10F format |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Ввод данных | USB, RS-232C, X/Y/Z-axis signal, Footswitch |
| Вывод данных | USB, RS-232C, Printer |
| Источник питания | 100/240V AC, 50/60 Hz |
| Масса | 2.9 kg |
| Разрешение | 1 / 0,1 µm |
| Измерение геометрических элементов | Maximum of 1000 elements, point, line, circle, distance, ellipse, rectangular hole, slotted hole, intersection and intersecting angle and point & angle, plus a number of functions for evaluation, e.g. perpendicularity and parallelism are provided. |
| Вывод файла результата измерения | CSV format; MUX-10F format |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | Ultraviolet wavelenght CorrectedM Plan UV for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 |
| Масса | 330 g |
| Р | 0.8 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 15 mm |
| Увеличение | 20x |
| NA | 0.36 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of focusFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 266,355 and 550 nm |
| ф | 10 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø1.2 mm |
| Поле зрения 2 | 0,24 x 0,32 mm |
| ДФ | 2.1 μm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | Ultraviolet wavelenght CorrectedM Plan UV for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 |
| Масса | 310 g |
| Р | 1.1 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 20 mm |
| Увеличение | 10x |
| NA | 0.25 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of focusFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 266 and 550 nm |
| ф | 20 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø2.4 mm |
| Поле зрения 2 | 0,48 x 0,64 mm |
| ДФ | 4.4 μm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | BD Plan Apo for Bright/Dark Field ObservationCompatible with microscope types MF-U / Hyper MF-U |
| Масса | 400 g |
| Р | 0.7 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 20 mm |
| Увеличение | 20x |
| NA | 0.42 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 10 mm |
| Поле зрения 1 | ø1.2 mm |
| Поле зрения 2 | 0,24 x 0,32 mm |
| ДФ | 1.6 μm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | BD Plan Apo for Bright/Dark Field ObservationCompatible with microscope types MF-U / Hyper MF-U |
| Масса | 350 g |
| Р | 1 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 33.5 mm |
| Увеличение | 10x |
| NA | 0.28 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 20 mm |
| Поле зрения 1 | ø2.4 mm |
| Поле зрения 2 | 0,48 x 0,64 mm |
| ДФ | 3.5 μm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | BD Plan Apo for Bright/Dark Field ObservationCompatible with microscope types MF-U / Hyper MF-U |
| Масса | 340 g |
| Р | 5 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 34 mm |
| Увеличение | 2x |
| NA | 0.055 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 100 mm |
| Поле зрения 1 | ø1.2 mm |
| Поле зрения 2 | 2,4 x 3,2 mm |
| ДФ | 91 μm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | M Plan Apo SL for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: These objectives offer extra-long working distance. |
| Масса | 290 g |
| Р | 0.5 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 13 mm |
| NA | 0.55 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 2 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø0.24 mm |
| Поле зрения 2 | 0,05 x 0,06 mm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | M Plan Apo SL for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: These objectives offer extra-long working distance. |
| Масса | 240 g |
| Р | 1 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 30.5 mm |
| NA | 0.28 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 10 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø1.2 mm |
| Поле зрения 2 | 0,24 x 0,32 mm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | M Plan Apo for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: To avoid optical flare in use of coaxial illumination 1x objectives should be used togehter with polarisation unit on microscope and attached 1/4 wavelength plate. |
| Масса | 290 g |
| Р | 0.5 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 13 mm |
| NA | 0.55 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 4 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø0.48 mm |
| Поле зрения 2 | 0,1 x 0,13 mm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | M Plan Apo for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: To avoid optical flare in use of coaxial illumination 1x objectives should be used togehter with polarisation unit on microscope and attached 1/4 wavelength plate. |
| Масса | 270 g |
| Р | 0.7 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 20 mm |
| NA | 0.42 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 10 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø1.2 mm |
| Поле зрения 2 | 0,24 x 0,32 mm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Функции | M Plan Apo for Bright Field ObservationCompatible with microscope types VMU / FS-70 / MF-U / Hyper MF-UNote: To avoid optical flare in use of coaxial illumination 1x objectives should be used togehter with polarisation unit on microscope and attached 1/4 wavelength plate. |
| Масса | 220 g |
| Р | 5 µm |
| Рабочее расстояние | In Air: 34/30 mm |
| NA | 0.055 |
| Сокращения в таблице продуктов | N.A.: Numerical apertureW.D.: Working distanceP.D.: Parfocal distancef: Focal distanceR: Resolving powerD.F.: Depth of fieldFOV 1: Field of view when using ø24 mm eyepieceFOV 2: Field of view when using a digital camera with 1/2" chip size |
| Исправленная длина волны | 436-656 nm |
| ф | 100 mm |
| ПД | 95 mm |
| Поле зрения 1 | ø12 mm |
| Поле зрения 2 | 2.4 x 3.2 mm |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Быстрый просмотр
| Масса | 150 kg |
| Диапазон перемещения стола XY | 200 x 170 mm |
| Размер верхней части XY-платформы | 410 x 342 mm |
| Эффективный размер стекла | 270 x 240 mm |
| Макс. нагрузка на ступень | 20 |
| Функция поворота (слева) | ±5° (left) |
Характеристики
По запросу
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Микроскопы и проекторы профилей Mitutoyo доступны для оценки многих типов деталей, где бесконтактный метод измерения считается наиболее эффективным. Каждый инструмент представляет собой отличную инвестицию с точки зрения производительности, универсальности, качества конструкции и сервисной поддержки.
Каждый компонент инструмента разработан с использованием новейших технологий САПР для обеспечения максимальной производительности и изготовлен из материалов, наилучшим образом подходящих для данной цели для гарантированной долговечности, опираясь на непревзойденный технологический опыт мирового лидера в области метрологии.
Каждый компонент инструмента разработан с использованием новейших технологий САПР для обеспечения максимальной производительности и изготовлен из материалов, наилучшим образом подходящих для данной цели для гарантированной долговечности, опираясь на непревзойденный технологический опыт мирового лидера в области метрологии.
